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ASME标准试片CX-230 CX-430磁粉探伤试片
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更新时间:2024-06-04  |  阅读:3558

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ASME标准试片CX-230 CX-430磁粉探伤标准试片


CX-230 CX-430磁粉探伤标准试片属于美标ASME标准试片,试片用于磁粉探伤时对几何形状复杂,不同材质的工件检验时,可以正确地选择磁化规范,并可检验探伤设备、磁粉或磁悬液的性能,在磁粉探伤过程中,可以避免漏检,正确地知道探伤工作所需要的电流峰值和方向,并对显示缺陷的磁场强度有所估量,是磁粉探伤的调试工具。


ASME标准磁粉试片


CX4-230 灵敏度试片

CX4-430 灵敏度试片

CX-230   灵敏度试片

CX-430   灵敏度试片

使用方法:

选适当灵敏度的试片,将刻有槽的一面用胶带纸紧密地贴在工件上(胶带纸贴于试片两边缘,不要影响试片背面的刻槽部位)。

进行外加悬场法,对工件进行磁化,并在试片上浇以磁悬液或喷磁粉(磁化规范由低档逐提高,以显示磁痕为界,既是磁化电流)。

上述步骤完毕后,贴在工件表面上的试片,即可清楚显示磁痕。

注意事项:

1. 试片使用前,用柔软纸或纱布轻轻地把试片表面的油渍擦去,在用胶带纸紧密地贴在工件上。

2. 试片用后请涂防锈油。

3. 试片有褶皱不平或破裂,会影响探伤灵敏度,不宜继续使用。

ASME标准试片.jpg


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